ESR and Raman studies of chemical bath deposited CdS : Ni films

บทความในวารสาร

ผู้เขียน/บรรณาธิการ

กลุ่มสาขาการวิจัยเชิงกลยุทธ์

ไม่พบข้อมูลที่เกี่ยวข้อง

รายละเอียดสำหรับงานพิมพ์

รายชื่อผู้แต่ง: Intatha U., Eitssayeam S., Pengpat K., Udomkan N., Limsuwan P., Tunkasiri T.

ผู้เผยแพร่: World Scientific Publishing

ปีที่เผยแพร่ (ค.ศ.): 2008

วารสาร: Modern Physics Letters B (0217-9849)

Volume number: 22

Issue number: 22

หน้าแรก: 2113

หน้าสุดท้าย: 2121

จำนวนหน้า: 9

นอก: 0217-9849

eISSN: 1793-6640

URL: https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-52249085421&doi=10.1142%2fS0217984908016741&partnerID=40&md5=cb702391b7a7c1e00c4d8d8375af376d

ภาษา: English-Great Britain (EN-GB)

ดูในเว็บของวิทยาศาสตร์ | ดูบนเว็บไซต์ของสำนักพิมพ์ | บทความในเว็บของวิทยาศาสตร์

บทคัดย่อ

The CdS : Ni films were fabricated on glass substrates by chemical bath deposition method (CBD), where Ni concentrations are 0%, 10%, 20%, 30% and 40%. X-ray diffractometry (XRD), Raman spectroscopy and electron spin resonance (ESR) were employed to study the film structures. The XRD patterns revealed the presence of cubic CdS and trace of NiS. The Raman spectra were observed at 300 and 600 cm-1, corresponding to the first and second orders of the longitudinal optical phonon modes. Both results confirm that slightly lower order of crystallinity of CdS : Ni was found at the higher concentration of Ni. The ESR spectra showed the presence of F-type defects in CdS : Ni films. The band gaps of the samples were found to increase with the increase of Ni concentration. ฉ 2008 World Scientific Publishing Company.

คำสำคัญ

Cd1-xNixS thin films, Chemical bath deposition, Raman