Method for failure pattern analysis in disk drive manufacturing
บทความในวารสาร
ผู้เขียน/บรรณาธิการ
กลุ่มสาขาการวิจัยเชิงกลยุทธ์
ไม่พบข้อมูลที่เกี่ยวข้อง
รายละเอียดสำหรับงานพิมพ์
รายชื่อผู้แต่ง: Taetragool U., Achalakul T.
ผู้เผยแพร่: Taylor and Francis Group
ปีที่เผยแพร่ (ค.ศ.): 2011
วารสาร: International Journal of Computer Integrated Manufacturing (0951-192X)
Volume number: 24
Issue number: 9
หน้าแรก: 834
หน้าสุดท้าย: 846
จำนวนหน้า: 13
นอก: 0951-192X
eISSN: 1362-3052
ภาษา: English-Great Britain (EN-GB)
ดูในเว็บของวิทยาศาสตร์ | ดูบนเว็บไซต์ของสำนักพิมพ์ | บทความในเว็บของวิทยาศาสตร์
บทคัดย่อ
This research proposes the design of an algorithm for failure pattern analysis. The actual data is collected from a disk drive manufacturing line. Our work emphasises data from Head Gimbal Assembly (HGA). In our algorithm, the data are first retrieved from the data warehouse and pre-processed. The pre-processed data and critical parameters related to HGA production are then used as inputs. Subsequently, a decision tree is constructed to categorise decision options that indicate problems on the manufacturing environment. The root causes of the yield degradation can then be identified in the form of decision rules. Since only a few selected parameters will be tuned by the engineers, we also apply the hierarchical clustering algorithm in order to identify a group of parameters that should be considered first. The results can be used to automatically create a suggestion for yield improvement. Moreover, our experiments showed that a slow execution time may become problematic. Parallel tree construction is thus designed. The performance of our parallel algorithm is favourable. Data analysts in hard disk drive (HDD) companies can use this tool to automatically summarise the problems on the manufacturing line and yield can be improved as a result. ฉ 2011 Taylor & Francis.
คำสำคัญ
failure pattern analysis, HDD manufacturing, yield improvement
ติดต่อสอบถามเพิ่มเติมได้ที่