The investigation of read layers damage during the electromagnetic curing process of head gimbal assembly
Conference proceedings article
ผู้เขียน/บรรณาธิการ
กลุ่มสาขาการวิจัยเชิงกลยุทธ์
ไม่พบข้อมูลที่เกี่ยวข้อง
รายละเอียดสำหรับงานพิมพ์
รายชื่อผู้แต่ง: Aksornnium S., Watcharakitchakorn O., Silapunt R.
ผู้เผยแพร่: Hindawi
ปีที่เผยแพร่ (ค.ศ.): 2011
หน้าแรก: 183
หน้าสุดท้าย: 186
จำนวนหน้า: 4
ISBN: 9781612849782
นอก: 0146-9428
eISSN: 1745-4557
ภาษา: English-Great Britain (EN-GB)
บทคัดย่อ
The investigation of the soft electrostatic discharge (ESD) event in which the magnetic polarity reversal of the pinning/pinned bilayers of a tunneling magnetoresistive (TMR) read head is randomly detected during the electromagnetic curing process of the head gimbal assembly (HGA) is carried out using a 3-dimensional (3D) simulation, followed by the experimental validation. It is found that the thermal radiation mechanism associated with radiative properties and physical structures of materials under exposure could largely be responsible for the damage. The important finding is that the average slider peak temperature, which presumably represents the average reader peak temperature, is much higher than that obtained from the chamber's thermocouple reading. The result is experimentally validated with only 4.6-6% difference. ฉ 2011 IEEE.
คำสำคัญ
ไม่พบข้อมูลที่เกี่ยวข้อง
ติดต่อสอบถามเพิ่มเติมได้ที่