Scintillation Characteristics of GAGG:Ce Single-Crystalline Films Grown by Liquid Phase Epitaxy
บทความในวารสาร
ผู้เขียน/บรรณาธิการ
กลุ่มสาขาการวิจัยเชิงกลยุทธ์
ไม่พบข้อมูลที่เกี่ยวข้อง
รายละเอียดสำหรับงานพิมพ์
รายชื่อผู้แต่ง: Chewpraditkul W., Chewpraditkul W.R., Yawai N., Wantong K., Kucera M., Lucenicova Z., Nikl M.
ผู้เผยแพร่: Institute of Electrical and Electronics Engineers
ปีที่เผยแพร่ (ค.ศ.): 2018
วารสาร: IEEE Transactions on Nuclear Science (0018-9499)
Volume number: 65
Issue number: 8
หน้าแรก: 2132
หน้าสุดท้าย: 2135
จำนวนหน้า: 4
นอก: 0018-9499
eISSN: 1558-1578
ภาษา: English-Great Britain (EN-GB)
ดูในเว็บของวิทยาศาสตร์ | ดูบนเว็บไซต์ของสำนักพิมพ์ | บทความในเว็บของวิทยาศาสตร์
บทคัดย่อ
The Gd3(Al,Ga)5O12:Ce single-crystalline films were grown by a liquid phase epitaxy (LPE) technique from BaO-B2O3-BaF2 flux. The scintillation characteristics were investigated and compared to the bulk Gd3(Al2.7Ga2.3)O12:Ce single crystal (SC) grown by the Czochralski technique. The light yield (LY) and energy resolution were measured using an R6231 photomultiplier. At 5.5-MeV α -particles, the LY value of 7100 photons/MeV obtained for Gd3Al2.62Ga2.38O12:Ce-LPE sample is lower than that of 9310 photons/MeV for the Gd3(Al2.7Ga2.3)O12:Ce-SC sample, whereas an energy resolution of the LPE sample is better (5.9% versus 6.6%). The ratio of LY value under excitation with α - and γ -rays ( α/γ ratio) was also determined. Faster scintillation decay time and lower slow-component content were obtained for LPE samples with respect to Gd3(Al2.7Ga2.3)O12:Ce-SC one. © 1963-2012 IEEE.
คำสำคัญ
Gd3(Al,Ga)1O12:Ce, liquid phase epitaxy (LPE), single-crystalline films