Polarization Phase-shifting Technique for the Determination of a Transparent Thin Film's Thickness Using a Modified Sagnac Interferometer

บทความในวารสาร

ผู้เขียน/บรรณาธิการ

กลุ่มสาขาการวิจัยเชิงกลยุทธ์

ไม่พบข้อมูลที่เกี่ยวข้อง

รายละเอียดสำหรับงานพิมพ์

รายชื่อผู้แต่ง: Kaewon, R; Pawong, C; Chitaree, R; Bhatranand, A

ผู้เผยแพร่: OPTICAL SOC KOREA

ปีที่เผยแพร่ (ค.ศ.): 2018

Volume number: 2

Issue number: 5

หน้าแรก: 474

หน้าสุดท้าย: 481

จำนวนหน้า: 8

นอก: 2508-7266

eISSN: 2508-7274

ภาษา: English-Great Britain (EN-GB)

ดูในเว็บของวิทยาศาสตร์ | ดูบนเว็บไซต์ของสำนักพิมพ์ | บทความในเว็บของวิทยาศาสตร์

บทคัดย่อ

ไม่พบข้อมูลที่เกี่ยวข้อง

คำสำคัญ

Polarization phase-shifting technique, Rotating polarized light, Sagnac interferometer, Thin-film thickness measurement, Transparent thin films